HCP621G-PM温控探针台

广泛用于图象表征各种热转变过程,能够直接用于观察样品在加热或冷却过程中的形态变化以及结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化。

    迷你温控探针台,可用于显微镜/光谱仪

    -190℃~600℃ 可编程控温(负温需配液氮制冷系统)

    28mm x30mm加热区

    可充入保护气体的气密腔(另有真空腔型号)

    BNC接口四探针,手动点针*可选三同轴接口,用于pA级测试可选增设腔内接线柱(样品接电引线) 可从温控器或电脑软件控制,可提供软件SDK

    *可做定制或改动


  • 产品参数

    迷你温控探针台,可用于显微镜/光谱仪

    -190℃~600℃ 可编程控温(负温需配液氮制冷系统)

    28mm x30mm加热区

    可充入保护气体的气密腔(另有真空腔型号)

    BNC接口四探针,手动点针*可选三同轴接口,用于pA级测试可选增设腔内接线柱(样品接电引线) 可从温控器或电脑软件控制,可提供软件SDK

    *可做定制或改动


mini温控探针台

原位电学测试平台,适用于半导体材料、器件变温下的电学测试,设计小巧,便携集成显微、光谱系统。

温度范围 -190℃~600℃,RT~1000℃ 

温度稳定性 ±0.05℃ 

气氛保护、真空 

样品区 28x30mm 

探针数量 4个 

电学接头 BNC 三同轴BNC 可选 

台面电位 电接地 三同轴 背电极 可选 

适配光学仪器 显微镜 光谱仪 铁电 介电 电化学工作站 磁场 

电学源表 半导体分析仪 DLTS


HCP621G-PM温控探针台
广泛用于图象表征各种热转变过程,能够直接用于观察样品在加热或冷却过程中的形态变化以及结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化。
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